نام کتاب: Lock-In Thermography – Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials نویسنده: Otwin Breitenstein و Wilhelm Warta و Martin C. Schubert ویرایش: ۳ سال انتشار: ۲۰۱۸ کد ISBN کتاب: ۹۷۸۳۳۱۹۹۹۸۲۴۴, ۹۷۸۳۳۱۹۹۹۸۲۵۱ فرمت: PDF تعداد صفحه: ۳۲۱ انتشارات: Springer International Publishing Description About Book Lock-In Thermography – Basics…