نام کتاب: Reliability Of High Mobility Sige Channel Mosfets For Future Cmos Applications نویسنده: Jacopo Franco و Ben Kaczer و Guido Groeseneken ویرایش: ۱ سال انتشار: ۲۰۱۴ کد ISBN کتاب: ۹۷۸۹۴۰۰۷۷۶۶۲۳, ۹۷۸۹۴۰۰۷۷۶۶۳۰ فرمت: PDF تعداد صفحه: ۱۸۷ انتشارات: Springer Netherlands Description About Book Reliability Of High Mobility Sige Channel Mosfets…