نام کتاب: Stochastic Process Variation In Deep-Submicron Cmos – Circuits And Algorithms
نویسنده: Amir Zjajo
ویرایش: ۱
سال انتشار: ۲۰۱۴
کد ISBN کتاب: ۹۷۸۹۴۰۰۷۷۷۸۰۴, ۹۷۸۹۴۰۰۷۷۷۸۱۱
فرمت: PDF
تعداد صفحه: ۱۹۲
انتشارات: Springer Netherlands
Description About Book Stochastic Process Variation In Deep-Submicron Cmos – Circuits And Algorithms From Amazon
One of the most notable features of nanometer scale CMOS technology is the increasing magnitude of variability of the key device parameters affecting performance of integrated circuits. The growth of variability can be attributed to multiple factors, including the difficulty of manufacturing control, the emergence of new systematic variation-generating mechanisms, and most importantly, the increase in atomic-scale randomness, where device operation must be described as a stochastic process. In addition to wide-sense stationary stochastic device variability and temperature variation, existence of non-stationary stochastic electrical noise associated with fundamental processes in integrated-circuit devices represents an elementary limit on the performance of electronic circuits.
In an attempt to address these issues, Stochastic Process Variation in Deep-Submicron CMOS: Circuits and Algorithms offers unique combination of mathematical treatment of random process variation, electrical noise and temperature and necessary circuit realizations for on-chip monitoring and performance calibration. The associated problems are addressed at various abstraction levels, i.e. circuit level, architecture level and system level. It therefore provides a broad view on the various solutions that have to be used and their possible combination in very effective complementary techniques for both analog/mixed-signal and digital circuits. The feasibility of the described algorithms and built-in circuitry has been verified by measurements from the silicon prototypes fabricated in standard 90 nm and 65 nm CMOS technology.
درباره کتاب Stochastic Process Variation In Deep-Submicron Cmos – Circuits And Algorithms ترجمه شده از گوگل
یکی از مهمترین و ویژگی های قابل توجه از تکنولوژی مقیاس نانومتری CMOS مقدار افزایش تغییرپذیری پارامترهای دستگاه کلیدی موثر بر عملکرد مدارهای یکپارچه شده است. رشد تنوع را می توان به عوامل متعدد، از جمله مشکل کنترل تولید، ظهور مکانیسم های جدید تنوع تولید سیستماتیک، و از همه مهمتر، افزایش در تصادفی در مقیاس اتمی، که در آن عملیات دستگاه باید به عنوان یک فرایند تصادفی توصیف نسبت داده . علاوه بر گسترده حس ثابت تنوع دستگاه تصادفی و تغییرات درجه حرارت، وجود غیر ثابت نویز الکتریکی تصادفی در ارتباط با فرآیندهای اساسی در دستگاه های مدارهای مجتمع نشان دهنده حد ابتدایی بر عملکرد مدارهای الکترونیکی است.
در تلاش برای رسیدگی به این مسائل، فرایند تصادفی تنوع در اعماق زیر میکرون CMOS: مجموعه ها و الگوریتم پیشنهادات ترکیبی منحصر به فرد از درمان ریاضی از تغییرات تصادفی فرآیند، نویز الکتریکی و درجه حرارت و تحقق مدار لازم برای نظارت بر روی تراشه و کالیبراسیون عملکرد. مشکلات مرتبط در سطوح مختلف انتزاع، به عنوان مثال سطح مدار، سطح معماری و در سطح سیستم پرداخته شده است. از این رو یک دیدگاه گسترده ای راه حل های مختلف است که مورد استفاده قرار گیرد و ترکیب احتمالی آنها در تکنیک های مکمل بسیار موثر برای هر دو آنالوگ / مخلوط سیگنال و مدارات دیجیتالی فراهم می کند. امکان سنجی از الگوریتم های شرح داده شده و ساخته شده در مدار است تأیید شده است با اندازه گیری از نمونه های اولیه سیلیکون در استاندارد ۹۰ نانومتر و فن آوری ۶۵ نانومتر CMOS ساخته شده است.
[box type=”info”]
جهت دسترسی به توضیحات این کتاب در Amazon اینجا کلیک کنید.
در صورت خراب بودن لینک کتاب، در قسمت نظرات همین مطلب گزارش دهید.
با خرید اشتراک، بدون محدودیت، کتاب دانلود کن!
