نام کتاب: Surface Analysis By Electron Spectroscopy Measurement And Interpretation
نویسنده: Graham C. Smith
ویرایش: ۱
سال انتشار: ۱۹۹۴
کد ISBN کتاب: ۹۷۸۱۴۸۹۹۰۹۶۹۵, ۹۷۸۱۴۸۹۹۰۹۶۷۱
فرمت: PDF
تعداد صفحه: ۱۵۶
انتشارات: Springer Us
Description About Book Surface Analysis By Electron Spectroscopy Measurement And Interpretation From Amazon
This book is t~e fifth in aseries of scientific textbooks designed to cover advances in selected research fields from a basic and general view point. The reader is taken carefully but rapidly through the introductory material in order that t~e significance of recent developments can be understood with only limited initial knowledge. The inclusion in the Appendix of the abstracts of many of the more important papers in the field provides further assistance for the non-specialist, and acts as aspringboard to supplementary reading for those who wish to consult the original liter ature. Surface analysis has been the subject of numerous books and review articles, and the fundamental scientific principles of t~e more popular techniques are now reasonably weIl established. This book is concerned with the very powerful techniques of Auger electron and X-ray photoelectron spectroscopy (AES and XPS), with an emphasis on how they may be performed as part of a modern analytical facility. Since the development of AES and XPS in the late 1960s and early 1970s there have been great strides forward in the sensitivities and resolutions of the instrumentation. Simultaneously, these spectroscopies have undergone a veritable explosion, both in their acceptance alongside more routine ana1ytical techniques and in the range of problems and materials to which they are applied. As a result, many researchers in industry and in academia now come into contact with AES and XPS not as specialists, but as users.
درباره کتاب Surface Analysis By Electron Spectroscopy Measurement And Interpretation ترجمه شده از گوگل
این کتاب الکترونیکی T ~ پنجم در aseries از کتاب های درسی علمی در زمینه پژوهش انتخاب از منظر اساسی و عمومی به پیشرفت پوشش طراحی شده است. خواننده با دقت اما به سرعت از طریق مطالب مقدماتی در گرفته که T ~ الکترونیکی اهمیت تحولات اخیر می توان با دانش اولیه تنها محدود قابل درک باشد. گنجاندن در ضمیمه از خلاصه بسیاری از مقالات مهم تر در این زمینه را فراهم کمک های بیشتری برای غیر متخصص، و به عنوان aspringboard به خواندن مکمل برای کسانی که مایل به مشورت ادبیات اصلی لیتری عمل می کند. تجزیه و تحلیل سطح شده است، موضوع کتاب ها و مقالات متعددی بررسی شده است، و اصول اساسی علمی T ~ تکنیک محبوب تر در حال حاضر منطقی ویل است. این کتاب با روش های بسیار قدرتمند از الکترون اوژه و طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس (AES و XPS) مربوط می شود، با تاکید بر چگونه ممکن است آنها به عنوان بخشی از یک مرکز تحلیلی مدرن انجام شده است. از آنجا که توسعه AES و XPS در اواخر ۱۹۶۰s و ۱۹۷۰s زود وجود دارد گام های بلندی به جلو در حساسیت ها و قطعنامه های ابزار دقیق بوده است. به طور همزمان، این اسپکتروسکوپی تحت یک انفجار واقعی، هر دو در پذیرش خود را در کنار تکنیک های معمول تر ana1ytical و در طیف وسیعی از مشکلات و مواد که به آن استفاده می شود. در نتیجه، بسیاری از محققان در صنعت و در دانشگاه ها در حال حاضر در تماس با AES می آیند و XPS به عنوان متخصصان نیست، اما به عنوان کاربران.
[box type=”info”]
جهت دسترسی به توضیحات این کتاب در Amazon اینجا کلیک کنید.
در صورت خراب بودن لینک کتاب، در قسمت نظرات همین مطلب گزارش دهید.
با خرید اشتراک، بدون محدودیت، کتاب دانلود کن!
